Жоғары энергетикалық ауыр иондардардың әсерiнен туындаған хиллоктардың өлшемiн бағалау
Қаралымдар: 116 / PDF жүктеулері: 73
DOI:
https://doi.org/10.32523/2616-6836-2018-124-3-21-25Аңдатпа
T iO2 кристалдарының бетiндегi хиллоктар биiктiгiнiң температурәга тәуелдiлiгi зерттелдi. Сәулелендiру энергиясы 220 МэВ ксенон иондарымен 5 ∗ 1010 ион/см 2 флюенста беткi бағдары [110] рутил T iO2 монокристалы сәулелендiрiлдi. Сәулелендiру 80 К және 1000 К температурасында жүргiзiлдi. Тәжiрибеде
хиллоктардың орташа биiктiгi сәулелендiру температурасына байланысты екенi көрсетiлдi. Хиллоктардың биiктiгi сәулелендiру температурсына тәуелiлiгi термиялық жарқыл моделi арқылы есептелiндi. Хиллоктардың қалыптасуында материалдардың тұтқырлық ролi екi көзқараста Бернулли заңы және Навье-Стокс теңдеулерiн салыстыру арқылы анықталды.