Модель термического пика для оценки параметров латентных треков в TiO 2
Просмотры: 107 / Загрузок PDF: 83
DOI:
https://doi.org/10.32523/2616-6836-2019-127-2-16-24Аннотация
Данная работа посвящена изучению радиационных эффектов быстрых тяжелых ионов в веществе. В рамках модели термического пика рассмотрен процесс
формирования латентных треков в TiO 2 в результате облучения ионами 132Xe с энергией 220 МэВ при разных температурах. В ходе данной работы произведена теоретическая оценка порога образования и размеров латентных треков в зависимости от температуры облучения. Результаты расчетов сравниваются с экспериментальными данными, полученными методом просвечивающей электронной микроскопии. Приводится сравнение и обсуждается вопрос применимости аналитической и неупругой моделей термического пика для описания процесса образования латентных треков.