ДАУЛЕТБЕКОВА, А. .; БАЙМУХАНОВ, З. .; КОЗЛОВСКИЙ, А. .; ГИНИЯТОВА, Ш. .; МУРЗАГАЛИЕВ, М. .; ЖУРКИН, Е. .; НАУРЫЗБАЕВА, Р. . SiO2/Si тiректi темплэйт негiзiнде нанокомпзиттi материалдарды зерттеу және әзiрлеу. Л.Н. ГУМИЛЕВ АТЫНДАҒЫ ЕУРАЗИЯ ҰЛТТЫҚ УНИВЕРСИТЕТІНІҢ ХАБАРШЫСЫ. ФИЗИКА. АСТРОНОМИЯ СЕРИЯСЫ, [S. l.], v. 122, n. 1, p. 82–90, 2022. DOI: 10.32523/2616-6836-2018-122-1-82-90. Disponível em: https://bulphysast.enu.kz/index.php/physast/article/view/102. Acesso em: 10 nov. 2026.